全自動超聲波掃描顯微鏡

簡要描述：PVA TePla SAM 全自動系列的全自動超聲波掃描顯微鏡能夠無損檢測空洞、空隙、氣泡、夾雜物和分層，是圓檢測、焊接界面檢查、MEMS檢測、以及各類電子封裝檢測的理想選擇。該系列配有自動缺陷檢測軟件包，可對各種缺陷類型進行全自動化評估，檢測結(jié)果可以以klarf文件和VEGA MAP的形式發(fā)布，同時支持鏈接GEM/SECS。根據(jù)所需分析樣品，可以選擇不同掃描儀配置，如：4×1、4×2或4×4。

產(chǎn)品型號：SAM全自動
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2024-08-13
訪問量： 453

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

相關(guān)文章

詳細介紹

全自動超聲波掃描顯微鏡 SAM Autotray 系列:SAM Auto Tray是專門為電子器件、電路板、IGBT和其他復(fù)雜部件的生產(chǎn)控制而開發(fā)的產(chǎn)品系列。該系統(tǒng)符合10級潔凈室標準，主要應(yīng)用包括驗證缺陷，如：縫隙、氣泡、孔洞、夾雜物、脫層區(qū)域、焊接或銀燒結(jié)界面的厚度變化等，支持同時檢查多個界面。

全自動超聲波掃描顯微鏡 SAM Autowafer 系列:SAM 300 AutoWafer系列是專門為內(nèi)聯(lián)生產(chǎn)控制而開發(fā)的產(chǎn)品系列，符合100/1000級無塵室標準，該系統(tǒng)專為檢測晶圓界面、晶圓鍵合、 MEMS 產(chǎn)品、或者混合粘合應(yīng)用而設(shè)計，可用于檢測空洞、夾雜物或分層或微空隙。多傳感器配置可使得晶圓檢測通過率高。

全自動超聲波掃描顯微鏡 SAM 大視場掃描系統(tǒng):SAM大視場系列是專門為分析DCB’s或電源模塊而開發(fā)的產(chǎn)品系列，可支持檢測掃描范圍為300µm x 300µm到1300mm x 1300mm。多至8個傳感器可實現(xiàn)超高檢測通過率。該系統(tǒng)包括自動缺陷審查軟件、GEM/SECS通訊，以及MES通訊。激光打標站和分類輸出端口可供選擇。